POSTECH 산업경영공학과 배영목 동문(지도교수 김광재)이 지난 7월 7일 개최된 「제27회 한국 테스트 학술대회」의 'AI & Machine Learning for Testing' 세션에서 발표한 논문으로 최우수 논문상(Best Paper Award) 을 수상하였다.

수상 논문은 「Bidirectional Cross-Attention Autoencoder for Latent Defect Chip Detection in Semiconductor Fabrication with Parameter Ratio Feature Fusion」으로, 반도체 제조 공정에서 발생하는 잠재 결함 칩을 효과적으로 탐지하기 위한 AI 기반 모델을 제안한 연구이다. 특히 현업 엔지니어들의 높은 관심과 긍정적인 평가를 받아 우수성을 인정받았다.

배영목 동문은 이번 수상과 관련하여 "교수님과 함께 수행한 연구가 현장 엔지니어들에게도 의미 있게 받아들여졌다는 점에서 매우 기쁘게 생각합니다." 라고 소감을 전했다.

POSTECH 산업경영공학과는 배영목 동문의 수상을 진심으로 축하하며, 앞으로도 우수한 연구성과가 산업과 학계에 기여할 수 있도록 지속적인 연구와 성장을 응원한다.